Трухин В.Н., Голубок А.О., Лютецкий А.В., Матвеев Б.А., Пихтин Н.А., Самойлов Л.Л., Сапожников И.Д., Тарасов И.С., Фельштын М.Л., Хорьков Д.П.
Диагностика полупроводниковых структур с использованием терагерцового безапертурного ближнепольного микроскопа
