Проведена регистрация динамики спеклов в плоскости изображения монослоя клеток, культивированных на стеклянной подложке. В качестве объектов исследования выбраны культуры клеток ЛЭЧ-3, Л-41 и Vero. В течение суток регистрировались оцифрованное значение интенсивности излучения $I$ в одном пикселе и параметр $\eta$, характеризующий изменение в распределении интенсивности на участке $10\times 10$ пикселов. Коэффициент множественной детерминированности, рассчитанный по зависимостям $\eta$ от времени, для трёх клеточных культур равен $0,94$.