Рассмотрена задача о наклонном падении гауссова пучка на плоскослоистую структуру из диэлектрика с применением многолучевого метода, который учитывает вклад переотражённых внутри слоя волн, что существенно влияет на результирующее распределение амплитуды и фазы отражённой волны. Этот подход особенно полезен для анализа прохождения электромагнитных волн через многослойные диэлектрические структуры. Продемонстрирована методика компьютерного расчёта отражённого пучка через его разложение по плоским волнам с применением быстрого преобразования Фурье и учёта потерь в каждом слое диэлектрика. Задача решена в рамках параболического приближения, в спектре гауссова пучка учитывались компоненты с малым (по сравнению с волновым числом в свободном пространстве) поперечными волновыми числами. При отражении плоской волны от слоя диэлектрика учитывался произвольный характер её поляризации.

На английском языке
Reflection of a Gaussian beam from an arbitrary number of plane-parallel dielectric plates
Ryabov A.V. and Palitsin A.V.

We consider the problem of oblique incidence of a Gaussian beam on a plane-parallel dielectric structure using a multi-beam method that takes into account the contribution of the waves rereflected within the layer, which significantly affects the resulting distribution of the amplitude and phase of the reflected wave. This approach is particularly useful for the analysis of the transmission of electromagnetic waves through multilayer dielectric structures. A method for the computer calculation of the reflected beam, which consists in the beam expansion in plane waves using the fast Fourier transform with account for the losses in each dielectric layer, is demonstrated. The problem was solved within the framework of the parabolic approximation. The components of the Gaussian beam spectrum with small (as compared to the wave number in free space) transverse wave numbers were taken into account. The arbitrary nature of its polarization was taken into account in the case, where a plane wave was reflected from a dielectric layer.

DOI: https://doi.org/10.52452/00213462_2025_68_04_343