Дан сравнительный анализ и краткое описание трёх методов восстановления высотных зависимостей электронной концентрации в ионосфере по ионограммам внешнего спутникового зондирования, содержащим следы отражений зондирующих сигналов от земной поверхности. Во всех методах профили во внешней ионосфере рассчитываются по x-следу ионограммы классическим способом. Для восстановления профилей электронной концентрации во внутренней ионосфере и уточнения критической частоты и высоты максимума слоя F2одновременно используются частотные зависимости групповых путей сигналов, отражённых как от поверхности Земли, так и от области F2 во внешней ионосфере. В двух методах искомые профили представляются слоями из модельных распределений с ограниченным числом параметров, значения которых находятся путём минимизации отклонений расчётных групповых путей от экспериментальных. Полученные профили, могут быть отображены в профили модели International Reference Ionosphere (IRI) по значениям критической частоты и высоты максимума слоя F2, а также двух параметров, определяющих форму профиля в области F, которые рассчитываются дополнительно. Представлен новый (третий) метод, в котором вся внутренняя ионосфера представляется корректируемым профилем из модели IRI. Подгонка профиля под экспериментальные данные проводится путём вариаций ключевых параметров модели. Верификация методов в модельном эксперименте с использованием ракетных измерений электронной концентрации показала, что восстанавливаемые профили хорошо согласуются в области F как друг с другом, так и с ракетным профилем. Показана принципиальная возможность диагностики слоя F1 при высокой точности экспериментальных данных. Приведены примеры расчётов полных (от высоты спутника) профилей по ионограммам спутника ISIS-2. Даны рекомендации по практическому применению методов.
Денисенко П.Ф., Соцкий В.В. Методы коррекции высотных профилей электронной концентрации модели IRI для внутренней ионосферы по данным спутникового зондирования // Изв. вузов. Радиофизика. 2022. Т. 65, № 9. C. 713–733.