Обсуждаются два альтернативных подхода, связывающие фликкерный (1/f) шум в полупроводниках с флуктуациями подвижности носителей тока. Согласно первому подходу 1/f шум ассоциируется с флуктуациями рассеяния носителей тока на акустических колебаниях решётки. Во втором подходе причиной шума считаются флуктуации сечения рассеяния подвижных дефектов. Проанализированы экспериментальные данные, свидетельствующие в пользу первого подхода. Показано, что для объяснения существующих данных в рамках модели флуктуаций сечения рассеяния подвижных дефектов необходимо существование не выявленного ранее эффекта: увеличение степени легирования при изготовлении полупроводника должно приводить к пропорциональному уменьшению концентрации подвижных дефектов, ответственных за возникновение 1/f шума.
Якимов А.В. Могут ли дефекты вызвать 1/f шум в полупроводнике? // Изв. вузов. Радиофизика. 1999. Т. 42, № 6. C. 590–594.